پاورپوینت با موضوع روش های پیشرفته مطالعه مواد آنالیز به روش XPS مقدمه : طیف نگاری فوتوالکترونی اشعه ایکس (XPS)، روش آنالیزی برای بررسی سطح مواد از نقطه نظر آنالیز عنصری، ترکیب شیمیایی و تعیین حالت پیوندی است. در این روش، سطح نمونه با اشعه ی ایکسِ تک انرژی بمباران می شود و فوتوالکترون… ادامه خواندن پاورپوینت با موضوع روش های پیشرفته مطالعه مواد